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      • KT-Z160TZ真空探針臺
        真空探針臺KT-Z160TZ,高溫真空腔探針系統主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環境,以便測量分析溫度變化時芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差。
        更新時間:2022-06-02型號:KT-Z160TZ廠商性質:生產廠家
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      • KT-Z1604TZ高溫真空探針臺
        高溫真空探針臺KT-Z1604TZ,可單選高溫或低溫等相應組件,溫度可達到400℃。以便測量分析溫度變化時芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差。
        更新時間:2022-05-30型號:KT-Z1604TZ廠商性質:生產廠家
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